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「ifia JAPAN 2010 第15回国際食品素材/添加物展・会議」に出展します（5/19～21）。（2010年4月28日） |
「ifia JAPAN 2010」
開催日： 2010年5月19日（水）・20日（木）・21日（金） 10：00～17：00（3日間）
会場： 東京ビッグサイト 西１・２ホール 東京都江東区有明3-21-1
出展ブース： 西１ホール Ａ－５１４ 食の安心科学ゾーン
【出展内容】
- 残留農薬分析サービス
パイオニアならではの豊富な実績と分析技術で様々なニーズにお応えいたします。初めてのお客様を対象にした期間限定のキャンペーンを開催いたします。 - 食品用内部品質検査装置「光品質チェッカー」コンベアタイプ・サンプリング検査タイプ
食品中の様々な成分を瞬時に検査して製品の品質安定や歩留まり向上に貢献する食品用品質検査装置。近赤外線透過光方式を用いた画期的新製品で、これまで業界各紙で取り上げられ多くの皆様より関心をお寄せいただいております。今回は、新発売の抜き取り検査用製品も展示いたします。 - 金属異物検出機「メタリダー」
マグネットでは取れない非鉄金属まで検出可能な超高感度センサーを搭載した金属異物検出機。
Feφ0.2mm、SUSφ0.3mmの検出感度を誇ります。
【プレゼンテーションのご案内】
日時：2010年5月21日(金) 10：30～10：50
テーマ：『食品の品質向上に全量検査 光品質チェッカー』
光品質チェッカープロジェクトリーダー 重藤 和明
会場：食の安心科学ゾーン内セッションコーナー
* 聴講無料
「ifia JAPAN 2010」 のホームページ
