財団法人　雑賀技術研究所

5月19・20・21日の3日間、東京ビッグサイトで開催された　「ifia JAPAN 2010 第15回国際食品素材/添加物展・会議」に「残留農薬分析サービス」、食品用内部品質検査装置「光品質チェッカー」、金属異物検出機「メタリダー」を出展しました。
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【展示会ノート】
「ifia JAPAN 2010」
開催日： 2010年5月19日（水）・20日（木）・21日（金）　 10：00～17：00（3日間）
会場：　東京ビッグサイト　西１・２ホール　東京都江東区有明3-21-1
出展ブース：　西１ホール　Ａ－５１４　食の安心科学ゾーン
　

サイカブース

　

プレゼンテーション
テーマ：「食品の品質向上に全量検査　光品質チェッカー」
日時：　5月21日（金）　10：30～10：50
会場：　食の安心科学ゾーン セッション会場

※主催者発表による3日間の来場者数は約34,000人でした。当ブースにお立ち寄りいただきましたみなさま誠に有難うございました。